6インチ（SEMI）シリコンウェハ 研究用 [P（100）,1-100Ω,] 片面ミラーDF品 1枚

商品説明

高純度シリコンウェハーの魅力

この6インチ（SEMI）シリコンウェハは、研究・開発用として多くの実績を誇ります。
高純度材料を使用し、CZ法で製造されたこのウェハーは、品質と信頼性に優れています。
特に、1〜100Ω・cmの広範囲な抵抗値を持ち、さまざまな実験条件に対応可能です。
また、エッチド面とミラー面の選択が可能で、用途に応じた表面処理を施すことができます。

仕様の詳細

サイズは6インチで、直径は150.0±0.2mm、厚さは675±25μmと安定した寸法を保持しています。
ダストフリーの状態を保ち、TTV（総厚変動）は≦25μmと均質性が高く、精密な実験に適しています。
OF方位は110で、OF長は57.5±2.5mmです。
特注対応も可能で、切断角度や厚み公差を小さくすることで、高精度な加工が求められる場面にも対応可能です。

用途とおすすめのユーザー

このシリコンウェハは、半導体研究や開発を行う研究機関や企業に最適です。
精密な溝形成や多様な形状加工が可能なため、高度な実験や開発プロジェクトにおいて非常に有用です。
また、特定の比抵抗率やウェハー厚みを必要とするカスタムプロジェクトにおいても、柔軟に対応可能です。
事業者向けの商品であるため、プロフェッショナルな研究・開発活動を行う方に特におすすめです。