6インチ（SEMI）シリコンウェハ 研究用 [P（100）,低抵抗（≦0.02Ω）] 片面ミラーDF品 25枚

商品説明

高純度シリコンウェハーで研究開発をサポート

6インチ（SEMI）シリコンウェハ 研究用 [P（100）,低抵抗（≦0.02Ω）] 片面ミラーDF品 25枚は、
研究・開発における実績を誇る高純度の材料を使用したウェハーです。
少量からご提供可能なこの製品は、半導体研究の基礎となる高品質な素材をお求めの方に最適です。
特に、高精度な加工が求められる用途に対応可能で、多様な形状加工と表面処理を施すことができます。

商品の仕様と特性

このシリコンウェハーは、直径150.0±0.2mm、厚さ675±25μmの標準的な6インチサイズです。
CZ法で製造されたP型のウェハーで、面方位は100、OF方位は110です。
抵抗値は≦0.02Ω・cmと低抵抗で、ミラー/エッチドの面状態を持ちます。
パーティクル数は≧0.3μmで≦20個、TTVは≦25μmと高い精度を実現しています。
1stオリフラ有りで、2ndオリフラ無しの仕様です。

幅広い利用用途

本製品は、半導体研究および開発に携わる研究者や技術者の方々にお勧めです。
特に、抵抗値やウェハー厚みの精密な調整が必要なプロジェクトに最適です。
また、ざぐり加工や穴あけ加工、酸化膜付きウェハーのような特注加工にも対応できるため、
多様な研究ニーズに応えます。
正確な溝形成が可能なエッチング技術もこの商品の魅力の一つです。

特注対応品について

特注対応品として、▼方位（切断角度）、OF方位角度公差、厚み公差をより小さく高精度に加工可能です。
ご希望の比抵抗率やウェハー厚みに合わせて、個別の対応が可能ですので、
具体的な仕様についてはお問い合わせください。
なお、本製品は事業者向けの商品ですので、材料純度に関する証明等は対応しておりません。