6インチ（SEMI）シリコンウェハ 研究用 [N（100）,1-100Ω,] 片面ミラーDF品 25枚

商品説明

高純度シリコンウェハの特長

6インチ（SEMI）シリコンウェハ 研究用 [N（100）,1-100Ω,] 片面ミラーDF品は、
研究・開発用として実績のある、高純度材料を使用したウェハです。
少量からのご提供が可能で、特注対応にも柔軟に対応します。
CZ法で製造され、N型導電性を持ち、面方位は100です。
ミラー/エッチドの面状態により、製品の高い精度が約束されます。
パーティクルは0.3μm以下で20個以下、TTVは25μm以下で、
高精度な研究に最適です。

製品仕様

- サイズ：6インチ（SEMI）シリコンウェハ
- 直径：150.0±0.2 mm
- ウェハー厚：675±25 μm
- 抵抗値：1～100 Ω・cm
- OF方位：110
- OF長：57.5±2.5 mm
- 数量：25枚（1箱）
- 1stオリフラ有り、2ndオリフラ無し

用途とおすすめポイント

本製品は半導体向けの結晶材を使用しており、
高精度な研究開発や製品テストに最適です。
特に、エッチングでの正確な溝形成が可能で、
多様な形状加工と表面処理に対応しています。
ざぐり加工や穴あけ加工、酸化膜付きウェハーなど、
ご希望に応じた加工が可能です。
材料純度に関する証明等には対応できませんが、
高い精度を求める研究者や開発者の方におすすめです。
※事業者向け商品であることをご留意ください。